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納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于光散射原理的先進技術，用于實時測量液體中納米顆粒（粒徑范圍通常為10-2000nm）的濃度和粒徑分布。其核心優(yōu)勢在于無需假設顆粒形狀或密度，可直接通過顆粒的布朗運動軌跡進行統(tǒng)計分析，適用于生物分子（如外泌體、病毒）、藥物載體、納米材料等復雜體系的表征。納米顆粒跟蹤分析儀的日常保養(yǎng)：1、清潔外部使用柔軟、干凈的布輕輕擦拭儀器的外殼，去除灰塵和污漬。避免使用含有腐蝕性化學物質的清潔劑，以免損壞儀器表面涂層。對于頑固污漬，可以使用少量溫和的中性清潔劑，但...

激光噴霧粒度儀是一種重要的粒度分析儀器，其基于激光散射原理進行工作。當一束激光照射到噴霧中的顆粒時，顆粒會對激光產生散射。散射光的強度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關。通過測量不同角度上的散射光強度，可以得到顆粒的粒度分布信息。這一原理依賴于米氏散射理論，即光線通過含有顆粒的不均勻介質時，與顆粒產生相互作用，發(fā)生吸收、反射、折射、透射和衍射等現(xiàn)象，使得光線偏離原先的光路。激光噴霧粒度儀其核心組成部分包括以下模塊：1、光學系統(tǒng)激光光源通常采用半導體激光器（如波長635...

本文摘要使用Zetasizer納米粒度電位儀進行預制備樣品電位測量時，樣品中產生的氣泡會顯著影響測量結果。本文將通過實際案例展示如何通過超聲脫氣與馬爾文帕納科的擴散屏障法[2]結合使用，來保障預制備樣品電位結果的數(shù)據(jù)質量和一致性。01丨前言提到氣泡，可能會聯(lián)想到游戲和有趣，但在科學測量領域，它們往往帶來更多的是辛苦和麻煩。使用納米粒度電位儀進行電位測量，通常情況下，當樣品制備好后立即進行電位測量時，氣泡很少會有影響。然而，當我們分析大批量樣品，需要高通量的方法，使用一些自動進...

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質的晶體結構、織構及應力，進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當一束X射線照射到晶體物質上時，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強度與晶體結構密切相關，不同的晶體物質具有自己獨t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質的晶體結構信息。X射線衍射儀的技術特點主...

粉末衍射儀，特別是粉末X射線衍射儀，是一種基于X射線衍射原理的重要分析儀器，在材料科學、化學、物理等多個領域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其工作原理是利用具有一定發(fā)散度的特征X光束照射多晶平板樣品。多晶平板樣品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所產生的衍射線將在適當?shù)姆轿痪劢苟纬裳苌鋸姺濉＿@些被聚焦的衍射線所對應的同名晶面或等同晶面與光源和接收狹縫處在同一聚焦圓周上。在測角儀掃描過程中，聚焦圓的半徑會不斷改變，但在樣品一定深度范圍內總是存在與聚焦圓吻合的弧面。這些滿足...