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淺析在線粒度儀相比傳統(tǒng)離線粒度測試方法的優(yōu)勢
發(fā)布時間:2023-07-27

在線粒度儀作為一種粒度分析工具,能夠?qū)崟r監(jiān)測和優(yōu)化顆粒尺寸分布,廣泛應用于各個工業(yè)領(lǐng)域。它的高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性使得粒度分析變得更準確和可靠。它通過光學或聲學原理,將物料中的顆粒進行非接觸式檢測,并根據(jù)檢測結(jié)果生成粒度分布曲線。通常具有高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性的特點,可以...

  • 發(fā)布時間:2024-06-20

    本文摘要本文將介紹馬爾文帕納科全新升級的激光粒度儀Mastersizer3000+在藥物開發(fā)中的部分應用,以及我們是幫助客戶如何制定有效的粒度標準?如何在藥物開發(fā)中制定有效的粒度標準?制藥行業(yè)中,原料藥的粒度分布可能會對產(chǎn)品的性能,如溶解度、生物利用度、含量均勻度、穩(wěn)定性等,產(chǎn)生顯著影響。ICHQ6A指導原則中給出了何時需要制定粒度標準的決策樹,建議對固體制劑或含不溶原料藥的液體制劑,當粒度大小是以下幾方面的關(guān)鍵因素時,需要建立粒度標準。溶出度、溶解度或生物利用度;制劑生產(chǎn);...

  • 發(fā)布時間:2024-06-07

    納米粒度電位儀在科學研究及工業(yè)應用中以其精準的測量能力和多方面的優(yōu)勢脫穎而出。以下是對其精準測量能力及其優(yōu)勢的詳細解析:精準的粒度測量:納米粒度電位儀能夠測量納米級顆粒的大小范圍,通常從幾納米到幾百納米不等。其高精度的測量能力,結(jié)合先進的激光散射技術(shù),確保了納米級顆粒大小的精確測定,滿足了各種納米材料尺寸測量的需求。高靈敏度的Zeta電位測量:除了粒度測量外,納米粒度電位儀還具有測量顆粒表面Zeta電位的功能。其Zeta電位測量范圍可達-600mV至+600mV,具有高靈敏度...

  • 發(fā)布時間:2024-06-07

    X射線熒光光譜儀是一種廣泛應用于材料分析和質(zhì)量控制領(lǐng)域的儀器。它利用樣品受到X射線激發(fā)后所發(fā)射的熒光X射線的特征能量,來分析樣品的成分和元素含量。其工作原理基于X射線的特性和樣品的熒光發(fā)射。當樣品受到高能X射線的激發(fā)時,樣品中的原子會吸收X射線的能量,并在吸收后重新排列電子結(jié)構(gòu)。在這個過程中,樣品會發(fā)射出特定能量的熒光X射線。通過測量和分析這些熒光X射線的能量和強度,可以確定樣品中的元素種類和含量。X射線熒光光譜儀的應用范圍:1、環(huán)境監(jiān)測:在環(huán)境保護領(lǐng)域,XRF被廣泛用于監(jiān)測...

  • 發(fā)布時間:2024-05-31

    納米顆粒跟蹤分析儀是一種能夠?qū)崟r監(jiān)測納米顆粒動態(tài)行為的儀器。該技術(shù)被廣泛應用于納米材料研究、生物醫(yī)學、環(huán)境科學等領(lǐng)域。原理是利用激光束照射樣品,觀察樣品中納米顆粒的布朗運動,并通過圖像處理技術(shù)對顆粒的位置進行跟蹤。通過采集大量顆粒的位置信息,可以得到顆粒的大小、濃度、形狀等信息。使用納米顆粒跟蹤分析儀的操作流程通常包括樣品制備、儀器預熱、樣品注入、數(shù)據(jù)采集等步驟。樣品制備的要求較高,需要避免樣品中存在大顆粒和異物干擾。在數(shù)據(jù)采集后,可通過分析軟件對數(shù)據(jù)進行處理,如計算平均直徑...

  • 發(fā)布時間:2024-05-29

    本文摘要對于激光衍射測量技術(shù)來說,方法開發(fā)的優(yōu)化,對結(jié)果的可靠性至關(guān)重要。但是我們中有多少人能夠確保每個標準操作程序(SOP)都盡善盡美?Mastersizer3000+的SOPArchitect功能,能從各個維度為方法開發(fā)提供指導,降低偏離最佳方案的風險。這使得標準方法的建立更加可靠、不易出錯,并大大減少監(jiān)管的時間。消除方法開發(fā)中的錯誤粒度檢測方法開發(fā)的過程中,面對一種新的樣品類型,無法快速確定各類參數(shù)的正確設置和測量方法的適用性,通過查閱資料尋求解決方案,又需要花費大量的...

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